本ユニットは、2台の高解像度カメラを使用することによりBGA、CSPを3次元計測及び2次元計測を行い、コプラナリティ、ピッチ、ボール径等を検査するものです。また、高解像度カメラ1台を追加することにより、BGA、CSPパッケージのマーク、デバイス方向、表面状態の検査を行ないます。